ＳＴＭ

scanning tunnel(or -ing) microscope

走査型トンネル顕微鏡.
ｓｃａｎｎｉｎｇ ｔｕｎｎｅｌ(ｏｒ -ｉｎｇ) ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ; ｒｅｌｉｅｓ ｏｎ ａ ｔｕｎｎｅｌｉｎｇ ｃｕｒｒｅｎｔ ｂｅｔｗｅｅｎ ｔｈｅ ｔｉｐ ａｎｄ ｓａｍｐｌｅ; ｏｎｌｙ ｃｏｎｄｕｃｔｉｎｇ ａｎｄ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｉｎｇ ｓａｍｐｌｅｓ ｃａｎ ｂｅ ｉｍａｇｅｄ; ｉｎｓｕｌａｔｉｎｇ ｓａｍｐｌｅｓ ｈａｖｅ ｔｏ ｂｅ ｃｏａｔｅｄ ｗｉｔｈ ａ ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ; ｒｅｆ. ＡＦＭ(ａｔｏｍｉｃ ｆｏｒｃｅ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11850887