ＳＥ

spectroscopic ellipsometry

分光エリプソメトリー. 半導体の複素誘電関数の測定法.
ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｉｃ ｅｌｌｉｐｓｏｍｅｔｒｙ; ｅ.ｇ. ｕｓｅｄ ｆｏｒ ｄｅｔｅｒｍｉｎｉｎｇ ｃｏｍｐｌｅｘ ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ ｆｕｎｃｔｉｏｎ ｏｆ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒｓ; ｒｅｆ. ＴＲ(ｔｈｅｒｍｏ-ｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ);
[Ｃ:Ｅ:Ｐｈｙｓ:Ｏｐｔ:Ｍｅｓ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11859075