ＡＦＭ

atomic force microscope

原子間力顕微鏡. 走査型トンネル顕微鏡.
ａｔｏｍｉｃ ｆｏｒｃｅ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ; ｔｈｅ ｓａｍｐｌｅ ｉｓ ｂｏｕｇｈｔ ｃｌｏｓｅ ｔｏ ａ ｓｅｎｓｉｎｇ ｔｉｐ ａｔｔａｃｈｅｄ ｔｏａ ｓｍａｌｌ ｃａｎｔｉｌｅｖｅｒ, ｗｈｉｃｈ ｉｓ ｄｅｆｌｅｃｔｅｄ ｂｙ ｔｈｅ ｉｎｔｅｒａｃｔｉｏｎ ｆｏｒｃｅｓ ｂｅｔｗｅｅｎ ｓａｍｐｌｅ ａｎｄ ｔｉｐ; ａｎ ＳＴＭ(ｓｃａｎｎｉｎｇ ｔｕｎｎｅｌ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ); ｒｅｆ. ＬＦＭ(ｌａｔｅｒａｌ ｆｏｒｃｅ ｍｉｃ

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11865105