ＡＰ-ＦＩＭ

atom probe field ion microscopy; for surface elements analysis

原子プローブ電界イオン顕微鏡法. 表面元素の質量分析法.
ａｔｏｍ ｐｒｏｂｅ ｆｉｅｌｄ ｉｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ; ｆｏｒ ｓｕｒｆａｃｅ ｅｌｅｍｅｎｔｓ ａｎａｌｙｓｉｓ;
[Ｃｈｅｍ:Ｐｈｙｓ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11865980