ＢＩＳＴ

built-in self-test(or -testing)

(半導体集積回路の)組込み自己診断機能.
ｂｕｉｌｔ-ｉｎ ｓｅｌｆ-ｔｅｓｔ(ｏｒ -ｔｅｓｔｉｎｇ); ｏｆ ａ ｄｅｖｉｃｅ; ａ ｓｅｌｆ-ｔｅｓｔ ｆｕｎｃｔｉｏｎ ｏｆ ａ ｄｅｖｉｃｅ; ｅ.ｇ. ｉｎ ａｎ ＡＳＩＣ(ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ-ｓｐｅｃｉｆｉｃ ＩＣ);
[Ｃ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11867523