ＢＴ

bias and temperature (test)

素子の加速試験法. 高温で逆バイアスをかけた状態での試験法.
ｂｉａｓ ａｎｄ ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ (ｔｅｓｔ); ａ ｔｅｓｔ ｃｏｎｄｉｔｉｏｎ ｏｆ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｄｅｖｉｃｅｓ;
[Ｃ:Ｅ:Ｍｅｓ:Ｉｎｄ].(半導体素子の)バイアス加熱試験. 半導体

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11867995