ＣＶＢＴ

capacitance-voltage bias-temperature

容量-バイアス電圧-温度シフト法. ＭＯＳ構造半導体デバイスの移動イオン測定法の一つ.
ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ-ｖｏｌｔａｇｅ ｂｉａｓ-ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ ｓｈｉｆｔ (ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ); ａ Ｃ-Ｖ ｐｌｏｔｔｉｎｇ ｔｏ ｐｅｒｆｏｒｍ ＭＯＳ(ｍｅｔａｌ ｏｘｉｄｅ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ) ｍｏｂｉｌｅ ｉｏｎ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ; ｒｅｆ. ＴＶＳ(ｔｒｉａｎｇｕｌａｒ ｖｏｌｔａｇｅ ｓｗｅｅｐ) ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ;
[Ｍｅｓ:Ｍａｔ:Ｃ:Ｅ:Ｐｈｙｓ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11870768