ＦＰＰ

four-point probe

四点プローブ. 半導体のドーピング特性測定に用いる探針.
ｆｏｕｒ-ｐｏｉｎｔ ｐｒｏｂｅ; ｕｓｅｄ ｔｏ ｍｅａｓｕｒｅ ｄｏｐｉｎｇ ｐｒｏｃｅｓｓｅｓ ｉｎ ａ ｄｉｆｆｕｓｉｏｎ ａｒｅａ ｏｆ ａ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｗａｆｅｒ; ｕｓｅｄ ｔｏ ｍｅａｓｕｒｅ ｉｍｐｌａｎｔｅｄ ｉｏｎ ｄｏｓｅ;
[Ｍｅｓ:Ｐｈｙｓ:Ｉｎｄ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11875234