ＩＢＩＳ

individual burn-in system

(半導体デバイスの)個別動作試験システム. 半導体製品動作試験装置.
ｉｎｄｉｖｉｄｕａｌ ｂｕｒｎ-ｉｎ ｓｙｓｔｅｍ; ａ ｔｅｓｔ ｓｙｓｔｅｍｆｏｒ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｄｅｖｉｃｅｓ; ｃｏｎｔｒｏｌｓ ｔｈｅ ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ ｏｆ ｉｎｄｉｖｉｄｕａｌｌｙ ｔｅｓｔｅｄ ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓ;
[Ｉｎｄ:Ｃ:Ｅ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11877731