ＴＡＰ

test access port

試験用電極. コンピュータ製品を試験できるようにあらかじめ配慮して設ける電極.
ｔｅｓｔ ａｃｃｅｓｓ ｐｏｒｔ; ｓｐｅｃｉｆｉｅｄ ｉｎ ＩＥＥＥ 1149.1 Ｓｔａｎｄａｒｄ Ｔｅｓｔ Ａｃｃｅｓｓ Ｐｏｒｔ ａｎｄ Ｂｏｕｎｄａｒｙ-Ｓｃａｎ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ; ａｌｌ ＡＳＩＣｓ ｍｕｓｔ ｉｍｐｌｅｍｅｎｔ ａ ｄｅｄｉｃａｔｅｄ ｂｏｕｎｄａｒｙ ｓｃａｎ ｒｅｇｉｓｔｅｒ ａｎｄ ｉｔｓ ＴＡＰ; ｕｓｅｄ ｉｎ ＤＦＴ(ｄｅｓｉｇｎ-ｆｏｒ-ｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙ) ａｒ

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11851267