ＴＤＤＢ

time-dependent dielectric breakdown

時間依存誘電破壊(法). 半導体装置の酸化膜破壊試験法.
ｔｉｍｅ-ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ ｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃ ｂｒｅａｋｄｏｗｎ; ａ ｍｅｔｈｏｄ ｔｏ ｍｅａｓｕｒｅ ｏｘｉｄｅ ｄａｍａｇｅ ｉｎ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｄｅｖｉｃｅｓ ｗｉｔｈ ａ ｃｏｎｓｔａｎｔ-ｃｕｒｒｅｎｔ ｏｒ ｃｏｎｓｔａｎｔ-ｆｉｅｌｄ;
[Ｃ:Ｅ:Ｍｅｓ:Ｉｎｄ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11851613