ＳＰＭ

scanning probe microscopy(or microscope)

走査型プローブ顕微鏡. 走査型トンネル顕微鏡, 原子間力顕微鏡などの総称.
ｓｃａｎｎｉｎｇ ｐｒｏｂｅ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ(ｏｒ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ); ｒｅｖｅａｌｓ ｔｈｅ ｓｕｒｆａｃｅ ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ ｏｆ ａ ｍａｔｅｒｉａｌ ｗｉｔｈ ｅｘｔｒｅｍｅｌｙ ｈｉｇｈ ｌａｔｅｒａｌ ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ ｂｙ ｓｃａｎｎｉｎｇ ａｃｒｏｓｓ ａ ｓａｍｐｌｅ ｓｕｒｆａｃｅ ｗｉｔｈ ａ ｓｍａｌｌ, ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ｐｒｏｂｅ ｐｏｓｉｔｉｏｎｅｄ ｖｅｒｙ ｃｌｏｓｅ ｔ

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11860173