ＡＣＵＴ

active circuit under test

試験中動作回路. ＭＣ68332半導体集積回路の試験用制御レジスタのビットの名称.
ａｃｔｉｖｅ ｃｉｒｃｕｉｔ ｕｎｄｅｒ ｔｅｓｔ; ａ ｂｉｔ ｏｆ ｔｅｓｔ ｓｕｂｍｏｄｕｌｅ ＣＲＥＧ(ｃｏｎｔｒｏｌ ｒｅｇｉｓｔｅｒ) ｏｆ ＭＣ68332 ＳＩＭ(ｓｙｓｔｅｍ ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ ｍｏｄｕｌｅ) ｂｙ Ｍｏｔｏｒｏｌａ; ｓｅｔｔｉｎｇ ｔｈｉｓ ｂｉｔ ｅｎａｂｌｅｓ ａｎ ｉｄｌｅ ｍｏｄｕｌｅ ｕｎｄｅｒ ｔｅｓｔ ｔｏ ｒｕｎｆｏｒ ｔｈｅ ｐｅｒｉｏｄ ｄｅｆｉｎｅｄ ｂ

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11864743