ＥＯＳ

electrical overstress

原因.
ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ ｏｖｅｒｓｔｒｅｓｓ; ｉｎ ＭＯＳ(ｍｅｔａｌ-ｏｘｉｄｅ-ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ) ＩＣ(ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ); ｄａｍａｇｅｓ ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓ; ｍｏｓｔ ｃｏｍｍｏｎ ｃａｕｓｅ ｏｆ ＥＯＳ ｉｓ ＥＳＤ(ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ ｄｉｓｃｈａｒｇｅ);
[Ｃ:Ｅ:Ｉｎｄ].電気的過剰応力. 半導体電子部品の破壊

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11873758