ＨＴＲＢ

high-temperature, reverse-bias (testing)

(高信頼度半導体デバイスの)高温, 逆バイアス(試験).
ｈｉｇｈ-ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ, ｒｅｖｅｒｓｅ-ｂｉａｓ (ｔｅｓｔｉｎｇ); ａｎ ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄ-ｌｉｆｅ ｓｃｒｅｅｎｉｎｇ ｔｅｓｔ ｆｏｒ ｈｉｇｈ-ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｄｅｖｉｃｅｓ;
[Ｃ:Ｅ:Ｉｎｄ:Ｍｅｓ:Ｐｈｙｓ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11877387