ＬＳＳＤ*

level sensitive scan design

論理集積回路の試験法. 内部の記憶素子をシフトレジスタ構成とし, 試験時にスキャンアウトする.
ｌｅｖｅｌ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ｓｃａｎ ｄｅｓｉｇｎ;
[Ｃ:Ｅ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11881169