ＷＬＲ

wafer level reliability (fast test)

ウェーハによる信頼性(迅速試験). 半導体製品の半製品による信頼性試験.
ｗａｆｅｒ ｌｅｖｅｌ ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ (ｆａｓｔ ｔｅｓｔ);
[Ｃ:Ｅ:Ｉｎｄ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11850426