ＵＶＩＳ

ultra violet inspection system

紫外線検査装置. 半導体ウェーハーの検査装置.
ｕｌｔｒａ ｖｉｏｌｅｔ ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ ｓｙｓｔｅｍ; ａｎ ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ ｔｏ ｉｎｓｐｅｃｔ ｘ-ｒａｙ-ｐｒｉｎｔｅｄ ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｗａｆｅｒ ｉｍａｇｅｓ;
[Ｏｐｔ:Ｉｎｄ:Ｃ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11853458