ＢＥＥＭ

ballistic electron emission microscopy

弾道電子発光顕微鏡. ショットキー障壁高の測定法の一つ.
ｂａｌｌｉｓｔｉｃ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｅｍｉｓｓｉｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ; ａ Ｓｃｈｏｔｔｋｙ ｂａｒｒｉｅｒ ａｎａｌｙｓｉｓ;
[Ｃｈｅｍ:Ｐｈｙｓ:Ｅ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11867267