ＤＦＴ

design-for-testability (architecture)

試験可能設計(アーキテクチャ). コンピュータ製品を試験できるようにあらかじめ配慮して設計する手法.
ｄｅｓｉｇｎ-ｆｏｒ-ｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙ (ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ); ｕｓｅｓ ＴＡＰ(ｔｅｓｔ ａｃｃｅｓｓ ｐｏｒｔ);
[Ｃ:Ｉｎｄ].

丸善 「略語大辞典」 JLogosID : 11871659